电子测试理论与应用杂志

电子测试理论与应用杂志（Journal Of Electronic Testing-theory And Applications）在中科院分区中位于4区，JCR分区位于Q4。审稿速度一般为较慢,6-12周，且近两年没有被列入国际预警名单，您可以放心投稿。如果您需要投稿指导，可在线咨询我们的客服老师，我们将竭诚为您服务。

《电子测试：理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试：理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审，以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料，并通过其快速的出版周期，努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料，但需要更广泛曝光的优秀会议论文，只要符合该杂志的同行评审标准，编辑也会酌情发表。 《电子测试：理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章，以促进对最新技术的更好理解。

《电子测试：理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题：

VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试；

模拟和数字电子电路的测试；

微处理器、存储器和信号处理设备的测试；

故障建模；

测试生成；

故障模拟；

可测试性分析；

可测试性设计；

可测试性综合；

内置自测试；

测试规范；

容错；

形式验证硬件；

验证模拟；

设计调试；

测试和诊断的人工智能方法和专家系统；

自动测试设备（ATE）；

测试夹具；

电子束测试系统；

测试编程；

测试数据分析；

测试经济性；

质量和可靠性；

CAD 工具；

晶圆级集成器件测试；

可靠系统测试；

制造良率和良率改进设计；

故障模式分析和工艺改进