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塑封微电路分层评价的研究与探讨

王伯淳; 杨城 湖北航天计量测试技术研究所; 湖北孝感432000; 锐捷网络股份有限公司; 福州350000

关键词:塑封微电路 高可靠领域 分层评价 

摘要:随着电子产品向小型化、轻量化、多功能方向的发展,越来越多的塑封微电路(PEM)被应用于高可靠领域。由于封装材料的本质特性,PEM与气密封装微电路相比存在固有弱点。因此,在质量、价格、进度和性能等多种因素的综合影响下,可能需要选用存在分层缺陷的PEM,此类PEM在有高可靠性要求的领域使用存在一定的风险。为降低风险,提高使用者对此类PEM的信心,根据PEM的特点和环境剖面,提出有针对性的PEM分层评价思路。

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