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基于图像分析的SEM显微视觉自动聚焦技术研究

李勇滔 韩立 中国科学院电工研究所 北京100080 中国科学院研究生院 北京100039

关键词:sem 自动聚焦 图像分析 

摘要:为了快速准确地获取清晰的SEM显微图像,提出了一种基于图像分析的SEM显微视觉自动聚焦技术。该技术采用了两级清晰度评价函数的自动聚焦策略,首先利用基于灰度差分的评价函数对图像进行分析评价,然后以大步距遍历搜索函数峰值,直至第一次经过峰值;接着,再利用基于DCT(discrete cosine transformation)变换的评价函数来分析评价图像之后,以小步距进行局部搜索,直至搜索到清晰的SEM显微图像,完成SEM的自动聚焦。实验证明,该技术准确有效,具有较强的鲁棒性和实时性。

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