利用光学对比鉴定石墨烯和硒化铟的层数

关键词：物理电子学 石墨烯 硒化铟 层数鉴定 光学对比 

摘要：石墨烯和硒化铟是两种性能极佳的二维材料,其性能会随着层数的变化而发生改变.光学对比法可用于快速鉴定石墨烯和硒化铟的层数.通过多光束平行平板干涉模型,计算出1~4层的样品在单抛氧化硅片上的理论反射率对比值;采用机械剥离的方法,制备1~4层的样品,利用共聚焦拉曼光谱仪和原子力显微镜对其层数加以明确;利用ImageJ软件求取样品与衬底的红色波段色度值和绿色波段色度值,进而计算出实际反射率对比值.实验结果表明,1~4层样品实际反射率对比值与理论反射率对比值的误差均小于6%。本研究方法具有一定的准确性和速效性,为快速鉴定石墨烯和硒化铟的层数提供了理论基础和实验支持。

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