关键词：光谱学分析 结焦机理 织构 扫描电子显微镜 x射线光电子能谱 

摘要：以焦炉上升管内壁结焦炭层为研究对象,采用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究各结焦炭层的微观形貌、元素组成及键合状态,分析结焦炭层织构形成及演化规律。SEM研究表明,焦炉上升管内壁各结焦炭层形貌呈现较大的差异性,1#结焦炭层呈现0.1~1.0μm颗粒化炭颗粒松散堆叠的多孔结构,2#和3#结焦炭层呈现粒径为1.0~3.0μm的炭颗粒堆积形貌且致密性有所提高,4#结焦炭层呈现大量花纹状致密结构。以上现象可说明结焦炭层的形成过程为:首先由荒煤气中多环芳烃形成0.1~1.0μm的颗粒状初级炭层,颗粒状初级炭层在荒煤气粉尘中金属元素(如Fe)的催化作用下相互反应,形成更为致密的1.0~3.0μm的中级炭层结构,中级炭层在高温条件下进一步形成致密的终级炭层结构。XPS分析表明,1#—4#结焦炭层含C量分别为91.78%,91.95%,92.74%和94.01%,含O量分别为5.58%,5.42%,4.39%和2.86%,C/O比分别为16.45,16.96,21.12和32.87,说明在炭层结构变化的同时,炭层中含氧基团在高温及粉尘中金属元素(如Fe)作用下发生脱除反应,使得炭层中宏观C/O比逐渐升高。在此基础上,通过对C元素键合状态分峰发现,1^#—4^#结焦炭层中C—C/C—H结构含量分别为80.42%,78.00%,75.50%和81.29%,C—O/C—N结构含量分别为10.22%,11.93%,13.54%和9.35%,C=O/C=N结构含量分别为9.36%,10.07%,10.96%和9.36%。O元素键合状态分峰发现,1^#—4^#结焦炭层中=O结构含量分别为20.40%,22.21%,19.93%,18.36%,—O—结构含量分别为24.60%,27.80%,31.35%,37.82%,O2/H2O结构含量分别为55.00%,49.99%,48.72%和43.82%。以上现象说明结焦炭层上发生如下化学变化:初级炭层中多孔结构会吸附荒煤气中的氧气(O2)和水分子(H2O)在高温条件下对炭层进行氧化。脱除反应和氧化反应使得炭层中O元素在微观键合状态发生明显改变,最终使得炭层中O2/H2O和=O结构含量降低,—O—结构含量升高。以上

光谱学与光谱分析杂志要求:

{1}参考文献按“作者名，文稿名．期刊名．年份，卷数（期数）：页码．”或按“作者名．书名．出版社名，年份：页码，”等标注。

{2}凡不同意编辑修改稿件者，请在来稿中注明。

{3}来稿务求论点明确，论据可靠，数字准确、文字精练。并具原创性，不侵犯他人著作权，稿件未投它刊，未在其它任何期刊(包括内部出版物)刊登或研讨会上发表过(特约除外)。

{4}文题：要求简洁、明了，准确反映论文的内容，一般不超过20个字。

{5}文章关键要素，需有英文摘要。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社