关键词：发射光谱法 钨 钽钨合金 

摘要：采用发射光谱仪建立发射光谱法测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨含量的方法。使用高纯氢氧化钽基体的纯钨标准溶液制作工作曲线,钨的分析线为209.475 nm,方法的线性范围为1.25%~15.00%,加标回收率在93.0%~99.0%之间,测定结果的RSD值(n=11)小于0.8%。

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